柳沁低溫沖擊試驗設(shè)備用途：

適用于半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件均采用*，使柳沁品牌的半導體冷熱沖擊試驗箱與半導體冷熱沖擊試驗機的整體質(zhì)量和穩(wěn)定性得到了提升和保證。本公司還可以根據(jù)顧客的尺寸要求及溫度范圍定制。

滿足

GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GBT 10592-1989高低溫試驗箱 技術(shù)條件

柳沁低溫沖擊試驗設(shè)備

技術(shù)參數(shù)：

可選擇的容積有如下：

50L內(nèi)箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準

80L內(nèi)箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準

150L內(nèi)箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準

250L內(nèi)箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準

512L內(nèi)箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準

1000L內(nèi)箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準

溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃

蓄熱箱溫度范圍：+50℃～+165℃

蓄冷箱溫度范圍：0℃ ～-75℃

試驗箱均勻度：±2℃

設(shè)備波動度：±0.5℃

溫度沖擊速率：3~5min完成

附屬功能:

預先設(shè)定試驗開始時間，試驗箱自動開始起動并準備開始試驗。

進氣口在環(huán)境溫度曝露時吸進外面的空氣。

排氣口從機械室和試驗區(qū)排出熱氣定時預定功能。

曝露時間縮短功能。

試驗區(qū)的下風溫度達到曝露溫度后轉(zhuǎn)換到下一個曝露的功能。

前處理/后處理功能。

在循環(huán)試驗開始前或結(jié)束后，試樣被曝露在高溫環(huán)境中（熱處理）維持一定時間。

干燥運轉(zhuǎn)功能。

試驗結(jié)件下運轉(zhuǎn)一定的時間。

不同溫段沖擊：由多級蒸發(fā)器結(jié)構(gòu)相應(yīng)切斷，控制蒸發(fā)面積與制冷量膨脹閥匹配，使用制冷系統(tǒng)輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達到恒定節(jié)能；另有獨立的換氣閥門，在排氣（常溫恢復）時動作引入環(huán)境空氣。